W-Cu / AlN-komposiitti XRD-analyysi
XRD (röntgendiffraktio), voimme saada sisäisen atomin tai molekyylin sisällön, rakenteen tai muodon analysoimalla spektrin. Röntgensäde on hyvin lyhyt aallonpituus (noin 20 ~ 0,06 angstromia) sähkömagneettisia aaltoja, voi tunkeutua tiettyyn materiaalin paksuuteen ja voi tehdä fluoresoivia aineita, valokuvausemulsiota valoherkkää, kaasu-ionisaatiota. Metalli "kohde" elektronisuihkun pommituksen aikaansaamissa röntgensäteissä röntgensäteitä, joilla on spesifisiä aallonpituuksia, jotka vastaavat kohteen eri elementtejä, kutsutaan tyypillisiksi (tai tunnistetuiksi) röntgensäteiksi.
Verrattuna W-Cu: n ja W-Cu / AlN: n XRD-spektriin kuumapuristussynteroinnin jälkeen voimme havaita, että W-, Cu-diffraktiopiikkiintensiteetti kasvoi merkittävästi, leveys kaventui, mikä osoittaa, että W- ja Cu-partikkeli kasvaa sintrausprosessissa . Sintrauksen jälkeen samoissa olosuhteissa W: n ja Cu: n diffraktiopiikkiintensiteetti synteettisessä kappaleessa, joka on lisätty nano-AlN-hiukkasten kanssa, on pienempi kuin sintrattu kappale, johon ei ole lisätty AlN-hiukkasia. On syytä, että Nano-kiteiset AlN-hiukkaset voivat tehokkaasti estää W- ja Cu-jyvien kasvua sintrauksen aikana. Sen vuoksi nano AlN voi edelleen edistää W-Cu -komposiittimateriaalien ominaisuuksia ja vähentää hiukkaskokoa XRD-analyysin avulla.
Volframin kupariseoksesta saatavaa palautetta tai kyselyä voi ottaa yhteyttä:
Sähköposti: sales@chinatungsten.com
Puh.: +86 592 512 9696 ; +86 592 512 9595
Faksi.: +86 592 512 9797
Lisätietoja：
Volframikupari
Volframi-kupariseos