Análisis de XRD compuesto W-Cu / AlN
XRD (difracción de rayos X), podemos obtener el contenido, la estructura o la forma del átomo o molécula interna analizando el espectro. La radiografía es una longitud de onda muy corta (cerca de 20 ~ 0.06 angstroms) de ondas electromagnéticas, puede penetrar cierto espesor del material, y puede hacer las sustancias fluorescentes, emulsión fotográfica fotosensible, ionización del gas. En los rayos X generados por bombardeo con haz de electrones de metal "blanco", los rayos X que tienen longitudes de onda específicas correspondientes a diversos elementos en el blanco se denominan rayos X característicos (o identificados).
En comparación con el espectro de XRD de W-Cu y W-Cu / AlN después de la sinterización por prensado en caliente, podemos hallar que la intensidad de pico de difracción de W, Cu aumentó significativamente, la anchura se redujo, lo que indica que la partícula W y Cu crece en el proceso de sinterización . Después de la sinterización en las mismas condiciones, la intensidad de pico de difracción de W y Cu en el cuerpo sinterizado añadido con partículas de nano-AlN es menor que la del cuerpo sinterizado sin partículas de AlN añadidas. Es la razón de que Nano cristalino AlN partículas pueden inhibir eficazmente el crecimiento de W y Cu granos durante la sinterización. Por lo tanto, nano AlN puede promover aún más la estructura característica de los materiales compuestos de W-Cu y reducir efectivamente el tamaño de partícula mediante el análisis de XRD.
Cualquier regeneración o investigación de los productos de la aleación del cobre del tungsteno satisfacen sienten libres de entrarnos en contacto con:
Email: sales@chinatungsten.com
Tel.: +86 592 512 9696 ; +86 592 512 9595
Fax.: +86 592 512 9797
Más información：
Cobre de tungsteno
Aleación de cobre de tungsteno