W-Cu / AlN Composite XRD Analyse
XRD (Diffraction des rayons X), nous pouvons obtenir le contenu, la structure ou la forme de l'atome ou de la molécule interne en analysant le spectre. Le rayon X est une longueur d'onde très courte (environ 20 ~ 0,06 angstroms) d'ondes électromagnétiques, peut pénétrer une certaine épaisseur du matériau et peut produire des substances fluorescentes, des photosensibles photosensibles photographiques, une ionisation gazeuse. Dans les rayons X générés par le bombardement des faisceaux d'électrons de la "cible" métallique, les rayons X ayant des longueurs d'onde spécifiques correspondant à différents éléments de la cible sont appelés rayons X caractéristiques (ou identifiés).
Par rapport au spectre XRD de W-Cu et W-Cu / AlN après le frittage à chaud, on a constaté que l'intensité du pic de diffraction de W, Cu a été considérablement augmentée, la largeur réduite, ce qui indique que la particule W et Cu se développent dans le processus de frittage . Après le frittage dans les mêmes conditions, l'intensité du pic de diffraction de W et Cu dans le corps fritté ajouté avec des particules de Nano-AlN est inférieure à celle du corps fritté sans particules d'AlN ajoutées. C'est pourquoi les particules NN cristallines d'AlN peuvent inhiber efficacement la croissance des grains de W et de Cu pendant le frittage. Par conséquent, nano AlN peut promouvoir davantage la structure caractéristique des matériaux composites W-Cu et réduire efficacement la taille des particules grâce à l'analyse XRD.
Tout commentaire ou demande de produits en alliage de cuivre de tungstène n'hésitez pas à nous contacter:
Email: sales@chinatungsten.com
Tel.: +86 592 512 9696 ; +86 592 512 9595
Fax.: +86 592 512 9797
Plus d'informations:
Cuivre de tungstène
Alliage de cuivre en tungstène