W-Cu / AlN 복합 XRD 분석
XRD (X-ray Diffraction)를 이용하여 스펙트럼을 분석하여 내부 원자 또는 분자의 함량, 구조 또는 형태를 얻을 수 있습니다. X 선은 전자파의 매우 짧은 파장 (약 20 ~ 0.06 옹스트롬)이며, 재료의 특정 두께를 투과 할 수 있으며, 형광 물질, 사진 유제 감광성, 가스 이온화를 만들 수 있습니다. 금속 "표적"의 전자빔 충격에 의해 생성 된 X 선에서, 표적의 다양한 원소에 해당하는 특정 파장을 갖는 X 선을 특성 (또는 식별 된) X 선이라고 부른다.
핫 프레스 소결 후의 W-Cu 및 W-Cu / AlN의 XRD 스펙트럼과 비교하여, W, Cu 회절 피크 강도가 현저하게 증가하고, 폭이 좁아 져서 W 및 Cu 입자가 소결 공정에서 성장한다는 것을 알 수있다 . 동일한 조건에서 소결 한 후에, 나노 -AlN 입자가 첨가 된 소결체 내의 W 및 Cu의 회절 피크 강도는 AlN 입자가 첨가되지 않은 소결체의 회절 피크 강도보다 낮다. 나노 결정질 AlN 입자가 소결시 W 및 Cu 입자의 성장을 효과적으로 억제 할 수있는 이유입니다. 따라서 나노 AlN은 W-Cu 복합 재료의 구조 특성을 더욱 촉진하고 XRD 분석을 통해 입자 크기를 효과적으로 줄입니다.
텅스텐 구리 합금 제품에 대한 피드백이나 문의 사항은 언제든지 저희에게 문의하십시오.
이메일: sales@chinatungsten.com
전화.: +86 592 512 9696 ; +86 592 512 9595
팩스.: +86 592 512 9797
더 많은 정보：
텅스텐 구리
텅스텐 구리 합금