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W-Cu/AlN複合材料XRD分析
XRD（X-ray Diffraction）X射線衍射，其通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等資訊的研究手段。X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質，並能使螢光物質發光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產生的X射線中,包含與靶中各種元素對應的具有特定波長的X射線，稱為特徵（或標識）X射線。
而通過對比熱壓燒結W-Cu和W-Cu/AlN燒結體得到的XRD圖譜，可以看出熱壓燒結後W、Cu衍射峰強度明顯升高、寬度變窄，這就說明了在燒結過程中W和Cu都發生了晶粒長大現象。在相同條件下燒結後，添加了納米AlN顆粒的燒結體中W、Cu的衍射峰強度，低於未添加AlN顆粒的燒結體，其原因是納米AlN顆粒在燒結過程中有效地抑制了W和Cu晶粒的長大。因此，納米AlN的添加進一步保證了W-Cu複合材料的納米結構特徵，有效地降低了燒結後複合材料的晶粒尺寸。
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