钨铜导电性测试

钨铜导电性测试实际上就是测量试样的电阻,因为根据试样的几何尺寸和电阻值就可以计算出它的电阻率。电阻的测量方法很多,应根据试样阻值大小、精度要求和具体条件选择不同的方法。如果精度要求不高,常用兆欧表、万用表、数字式欧姆表及伏安法等测量,而对于精度要求比较高或阻值在10-6~102Ω之间的材料(如金属及合金的阻值)测量时,必须采用更精密的测量方法。其中包括以下几种方法:

1、双臂电桥法
直流电桥是一种用来测量电阻的比较式仪器,它是根据被测量与已知量在桥式线路上进行比较而获得测量结果的。由于电桥具有很高的测量精度和灵敏度,而且有很大的灵活性,被广泛采用。单臂电桥由于电路中引线电阻和接触电阻无法消除,一般情况下,这些附加电阻约为10-5~10-2Ω,在测量小电阻时误差较大。所以单臂电桥只适合于测量102~106Ω的电阻。
双臂电桥法的测量原理如下图所示:

双臂电桥法图片

2、直流电位差计测量法
直流电位差计是根据补偿原理制成的测量电动势或电位差的一种仪器。测量精度较高,目前仍是最准确测量电位差的仪器之一,精密的电位差计可测量10-7V的微小电势。它不仅可以精测电源电动势和电路中的电位差,配以适当的电路还可以精测电流、电阻、电功率等。
直流电位差计测量法如下图所示:

直流电位差计测量法图片

3、直流四探针法
半导体材料的电阻率通常用直流四探针法也称为四电极法测量。使用的仪器以及与样品的接线如下图所示。由此图可见,测试时四根金属探针与样品表面接触,外侧两根1,4为通电流探针,内侧两根2、3为测电压探针。测量时四根探针可以不等距地排成一直线,由电流源输入小电流使样品内部产生压降,同时用高阻抗的静电计、电子毫伏或数值电压表测出2、3二根探针间的电压U23(单位为V)。

直流四探针法图片

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